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Reference

1941. TESCA

Installing the scanner drive into the complete system at IPHT (project partner) in Jena, Germany. Photograph: IMMS.

The drive system for a terahertz camera allows security checks whereby people can be effectively scanned for hidden objects as they simply pass by.

Service for R&D

1942. Test and characterisation

Service for R&D: Test and characterisation. We test, characterise and qualify your circuits, sensors and systems. Based on our excellent pool of measurement equipment, we develop an individually adapted test environment for measurements on wafers and individual components.

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1943. Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation

J. Zellmann, IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau

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1944. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich

B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen

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1945. Test mit Zukunft - Smart PXI

M. Konrad, K. Förster Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.2011

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1946. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges

B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany

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1947. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges

B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany

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1948. Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen

M. Meister, A. Rolapp I. Gryl 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen

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1949. Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren

St. Michael, 4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden

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1950. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten

B. Bieske, M. Lange S. Beyer TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien