171. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  

  172. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  

  173. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen   K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau  

  174. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, http://ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-0  

  175. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.2012  

  176. Testing of Ultra-sensitive materials for nanoelectromechanical systems - USENEMS   R. Grieseler, J. Klaus M. Stubenrauch K. Tonisch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Lanzarote, Canary Islands, Spain: ECI Conference on Nanomechanical Testing in Materials Research and Development. (invited). 9.10.2011  

  177. Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)   R. Grieseler, K. Tonisch J. Klaus M. Stubenrauch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.2012  

  178. Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization   Björn Bieske, Gerrit Kropp Alexander Rolapp 2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: http://doi.org/10.1109/SSD.2017.8166930  

  179. Testfeldentwurf zur Messung mit HF-Probes On-Wafer   U. Baumann, internal Application Note, Dezember 1998  

  180. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt