171. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.2012  

  172. Testing of Ultra-sensitive materials for nanoelectromechanical systems - USENEMS   R. Grieseler, J. Klaus M. Stubenrauch K. Tonisch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Lanzarote, Canary Islands, Spain: ECI Conference on Nanomechanical Testing in Materials Research and Development. (invited). 9.10.2011  

  173. Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)   R. Grieseler, K. Tonisch J. Klaus M. Stubenrauch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.2012  

  174. Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization   Björn Bieske, Gerrit Kropp Alexander Rolapp 2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: http://doi.org/10.1109/SSD.2017.8166930  

  175. Testfeldentwurf zur Messung mit HF-Probes On-Wafer   U. Baumann, internal Application Note, Dezember 1998  

  176. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  177. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  

  178. Testerinstrumente auf FPGA-Basis   M. Sprogies, G. Kropp I. Gryl Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)  

  179. Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme   Björn Bieske, Klaus Heinrich Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de  

  180. Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz   Björn Bieske, Michael Meister Dagmar Kirsten Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach