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1731. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich

B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen

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1732. Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem

A. Rolapp, R. Paris 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen

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1733. Einsatz eines Modularen Test-Systems für Mixed Signal Tests

I. Gryl, V. Schulze 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 129, 15. - 17. Februar 2009, Bremen

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1734. Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche

St. Hesse, C. Schäffel DFG Begutachtung, SFB 622 'Nanopositionier- und Nanomesssysteme', Teilprojekt A5, Forschungsziele 2009-2013, 11.02.-12.02.2009, Technische Universität Ilmenau

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1735. Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche

St. Hesse, C. Schäffel DFG Begutachtung, SFB 622 'Nanopositionier- und Nanomesssysteme', Teilprojekt A5, Forschungsergebnisse 2005-2009, 11.02.-12.02.2009, Technische Universität Ilmenau

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1736. Transfer der dynamischen Charakterisierung von Fotodioden auf Wafer-Ebene

M. Reinhard, Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, 7. GI/GMM/ITG-Workshop, 3. Februar 2009, Ulm, Germany

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1737. CMOS low-noise amplifiers for 1.575 GHz GPS applications

M. Isikhan, A. Richter Advances in Radio Science, 7, 145-150, 2009

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1738. A novel technique for CAD-optimization of analog circuits with bipolar transistors

B. Dimov, V. Boos T. Reich Ch. Lang E. Hennig R. Sommer Advances in Radio Science, 7, 219-223, 2009

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1739. Kamera auf Bestellung

J. Pospiech, R. Holzapfel H. Töpfer R. Peukert K. Nebel (1) AVT GmbH Ilmenau, (2) Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gGmbH, S&I-Kompendium 2009, Videoüberwachung, Alarm- & Sicherheitssysteme, S. 208, Januar 2009, www.sui24.net

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1740. TAB DVD photo diode

For industrial applications photodiodes were integrated into low-cost CMOS/BiCMOS processes of ASIC production. Photograph: IMMS.

For industrial applications photodiodes have been efficiently integrated into existing low-cost CMOS and BiCMOS processes of ASIC production.