2185 results
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Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen
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Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
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Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen
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Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques
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Challenges of Building AI-Based Virtual Temperature Sensors for Nanopositioning Systems (NPS)