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151. Einstieg in die HF-(Mess-)Technik

Björn Bieske, HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, 28. - 30. Juni 2024, Friedrichshafen, Germany

Press release

152. Stadt Ilmenau setzt gemeinsam mit dem IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH) Smart-City-Projekte um

A man on a ladder screws a sensor to a lamp post in front of a house.

Entwicklungen aus den Projekten thurAI und StadtLärm zum Monitoring von Lampendefekten, Feinstaub und Lärm

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153. DI-Meta-X: Bridging the Gap with Meta Formats

Georg Gläser, Melanie Wilhelm Robert Fischbach Detlef Bille Jan Mehner Peter Kreutziger Auftaktveranstaltung Chipdesign Germany, 6. - 7. Juni 2024, Hannover

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154. Enhancing Chemiluminescence-Detection with Dark-Count Rate Optimization Strategies for SPADs in Conventional CMOS Technologies

Benjamin Saft, Alexander Zimmer Maximilian Wiener Mirjam Skadell Eric Schäfer ISSW 2024, The International SPAD Sensor Workshop & the SPAD SENSOR SCHOOL, Trento, Italy, June 3 - 6, 2024

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155. VE-ARiS: Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme. Abwehr von Reserve-Engineering auf IC-Ebene

Projektkonsortium VE-ARiS (iC-Haus GmbH, Wachendorff Automation GmbH & Co. KG, IMMS GmbH), Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München

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156. What The Fuzz (WTF): A Framework for Fuzz Testing ASIC Designs

Henning Siemen, Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München

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157. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug

Adrian Pitterling, Florian Kögler Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München

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158. A Charge Pump System with Controlled Input Impedance for Optimized RFID Energy Harvesting

Rohit Kesharwani, Andre Jäger Martin Grabmann David Schreiber Georg Gläser Hani Abdullah Eric Schäfer 2024 IEEE International Conference on RFID (RFID), Boston, MA, USA, June 4-6, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/RFID62091.2024.10582749

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159. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation

Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173

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160. Investigations on tip-based large area nanofabrication and nanometrology using a planar nanopositioning machine (NFM-100)

Jaqueline Stauffenberg, Johannes Belkner Denis Dontsov Ludwig Herzog Steffen Hesse Ivo W Rangelow Ingo Ortlepp Thomas Kissinger Eberhard Manske 2024 Meas. Sci. Technol. 35 085011, DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6501/ad4668