2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Test (en/de): Testen auf der Überholspur – Machine Learning beschleunigt Messdaten-Analyse für ASICs um ein Vielfaches
Tom Reinhold,
Georg Gläser
Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2201D