1755 results
Reference
  1381. Superconducting Photosensitive Interface for Triggering RSFQ Circuits  
P. Febvre, H. Töpfer Th. Ortlepp B. Ebert S. Badi F.H. Uhlmann IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Vol. 17, No. 2, page 530-533, June 2007  
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  1382. Reducing the positioning uncertainty of a linear direct drive system with 200 mm travel range  
St. Hesse, T. Maass Ch. Schäffel M. Katzschmann Proceedings of the 7th Euspen - European Society for Precision Engineering - International Conference, 20.-24. Mai 2007, Bremen  
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  1383. Reducing the positioning uncertainty of a linear direct drive system with 200 mm travel range  
S. Hesse, T. Maass C. Schäffel M. Katzschmann 7th euspen International Conference, 20.-24. Mai 2007, Bremen  
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  1384. Symbolisches Approximationsverfahren zur automatisierten Modellgenerierung linearer und nichtlinearer Systeme  
R. Sommer, Workshop Entwurf von integrierten Analog-/Mixed-Signal-/HF-Schaltungen, 10.05.2007, Dresden  
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  1385. Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen  
H. Töpfer, Workshop Entwurf von integrierten Analog-/Mixed-Signal-/HF-Schaltungen, 10.05.2007, Dresden  
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  1386. Ein integrierter FSK-Demodulator mit Built-In Self-Calibration für ISM-Empfänger-ICs  
P. Teichmann, Workshop Entwurf von integrierten Analog-/Mixed-Signal-/HF-Schaltungen, 10.05.2007, Dresden  
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  1387. Graphentheoretischer Ansatz zur Initialdimensionierung analoger Schaltungen  
V. Boos, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS07), 8.-9. Mai 2007, Dresden  
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  1388. Graphentheoretischer Ansatz zur Initialdimensionierung analoger Schaltungen  
V. Boos, Workshop DASS '07 Schaltungs- und Systementwurf, 8.-9. Mai 2007, Dresden  
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  1389. Designtechnologie und innovative EDA-Werkzeuge - Die Brücke zwischen Schaltungsentwurt und Technologie  
R. Sommer, Silicon Saxony Tag, April 2007  
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  1390. Using BISC to improve integration level and yield of ISM-band receiver ICs  
P. Teichmann, DATE 2007 Design ,'Automation and Test in Europe', 16.- 20. April 2007, Nizza (Italien)  
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