IMMS - Search

Reference

1331. CMOS low-noise amplifiers for 1.575 GHz GPS applications

M. Isikhan, A. Richter Advances in Radio Science, 7, 145-150, 2009

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1332. CMOS Low Noise Amplifiers for 1.575 GHz GPS Applications

M. Isikhan, A. Richter Kleinheubacher Tagung, 22.-25. September 2008, Miltenberg, Germany

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1333. CMOS Low Noise Amplifiers for 1.575 GHz GPS Applications

M. Isikhan, A. Richter Kooperationsmarkt 08, edaWorkshop 08, 6. - 7. Mai 2008, Hanover, Germany

Press release

1334. CMOS image sensor platform for time-resolved fluorescence measurements with europium

Quantitative readout of test strips demonstrates broad applicability in in-vitro diagnostics

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1335. Clock Gate Insertion with a Yosys-based Netlist Modification Tool

Manuel Jirsak, Adrian Pitterling Jonas Lienke Georg Gläser FPGA Ignite Summer School, 5. - 9. August 2024, Heidelberg, Germany

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1336. Christian Paintz, Melexis

“Particularly in the evaluation of measurement data, IMMS has impressively demonstrated that a learning algorithm is on a par with manual evaluation – while saving a great deal of time. We are also continuing to pursue methods for circuit and layout analysis, as we see great research and application potential here as well.”

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1337. Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen

H. Töpfer, Workshop Entwurf von integrierten Analog-/Mixed-Signal-/HF-Schaltungen, 10.05.2007, Dresden

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1338. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme

B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn

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1339. Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen

Björn Bieske, Gerrit Kropp 29. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2017), 5.- 7. März 2017, Lübeck

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1340. Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques

Sebastian Giessmann, Steffen Michael Eric Lawrence Dr. Heinrich Steger Commercial Micro Manufacturing International Magazine (CMM Magazine), 08-2023, VOL 16 NO. 3, pp. 30-39