1291. Erhöhung von Integrationsgrad und Ausbeute für ISM-Band Empfänger-ICs durch BISC   P. Teichmann, 1. EDA-Workshop 07, 19.-20. Juni 2007, Hannover  

  1292. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1293. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie   U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999  

  1294. Ergebnisse von Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zum Entwurf analog-digitaler Mikroelektronik   G. Scarbata, VDI/VDE Veranstaltung des Thüringer Bezirksvereins e.V., F. Schiller Uni Jena, Januar 1997  

  1296. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag   W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006  

  1297. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht   Dr. W. Sinn, TU Ilmenau (Ringvorlesung), 08.06.2010, Ilmenau  

  1298. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen   M. Götze, W. Kattanek In: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, Band 2, S. 87-98. Verlag MoPress, Pohrsdorf, 2001  

  1299. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen   M. Götze, W. Kattanek 4. GI/ITG/GMM-Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 19.-21. Februar 2001, Meissen  

  1300. Erfahrungen beim Halbleitertest und zukünftige Herausforderungen für PXI-Testsysteme   Klaus Förster, ATE-Technologietag, Radolfzell, 07.05.2013