G. Knoblinger,
M. Fulde
D. Siprak, U. Hodel, K. Von Arnim, Th. Schulz, C. Pacha
U. Baumann
A. Marshall, W. Xiong, C. R. Cleavelin
P. Patruno
K. Schruefer
IEEE International SOI Conference, 1.-4. Oktober 2007, Indian Wells (USA)
Björn Bieske,
Uwe Stehr
Matthias Hein
Syed N. Hasnain
36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2024), 25. - 27. Februar 2024, Darmstadt, Germany