991. Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen   Björn Bieske, Andre Jäger 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013-06.03.2013  

  992. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference   Jun Tan, Marco Reinhard Dirk Nuernbergk Eckhard Hennig 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  

  993. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference   Jun Tan, Marco Reinhard Dirk Nuernbergk Eckhard Hennig 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013 - 06.03.2013  

  995. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests   Björn Bieske, Alexander Schulz 25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 2013, Tagungsband, S. 33-36  

  996. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests   Björn Bieske, Alexander Schulz 25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 24.02.2013 - 26.02.2013  

  997. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik   Volker Boos, Ralf Popp Mirco Meiners D. Meisel A. Müller in Newsletter edacentrum, 01/2013  

  998. Modeling of noise-induced jitter in low-power mixed-signal circuits using a SystemC high-level description   Komla Agla, Olaf Wetzstein Thomas Ortlepp Hannes Töpfer Telecommunications Forum (TELFOR) 20th, 2012, pp. 943-946, ISBN: 978-1-4673-2983-5, Digital Object Identifier: 10.1109/TELFOR.2012.6419364