Optical detected magnetic resonance (ODMR) of A<sub>Si</sub>-Si<sub>i</sub> defects: case of acceptor indium

Optical detected magnetic resonance (ODMR) of A_Si-Si_i defects: case of acceptor indium

Kevin Lauer^1,2. Bernd Hähnlein¹. Mario Bähr¹. Kai Kühnlenz¹. Philipp Kellner¹. Dirk Schulze². Stefan Krischok². Alexander Rolapp³. Christian Möller¹. Thomas Ortlepp¹.

4th DRD3 week on Solid State Detectors R&D, 10. –14. November 2025, CERN, Zürich, Schweiz

¹CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH, Konrad-Zuse-Str. 14, 99099 Erfurt, Germany. ²Technische Universität Ilmenau, Institut für Physik, Weimarer Str. 32, 98693 Ilmenau, Germany. ³IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany.

Talk and poster presentation

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Optical detected magnetic resonance (ODMR) of ASi-Sii defects: case of acceptor indium

Optical detected magnetic resonance (ODMR) of A_Si-Si_i defects: case of acceptor indium