Current Publication
Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Björn Bieske1.
Ingo Gryl1.
Pierre Wenke2.
Martin Jäger3.
Jörg Steinecke2.
Xiao Liu2.
35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.
2X-FAB Semiconductor Foundries GmbH, Erfurt, Germany.
3X-FAB Global Services GmbH, Erfurt, Germany.