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Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
B. Bieske1.
K. Gille2.
22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
2X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt.
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