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Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment
B. Bieske1. A. Rolapp1.9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-01IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment
B. Bieske1. A. Rolapp1.9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.20121IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen
K. Förster1.Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen
D. Kirsten1. A. Rolapp1. Dr. D. Nuernbergk1.4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen
D. Kirsten1. A. Rolapp1. Dr. D. Nuernbergk1.4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS
M. Meister1.49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC
Roman Paris1. Peter Kornetzky1. Jenny Klaus1.28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau. -
Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion
B. Bieske1. P. Witzenhausen1.18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.20061IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich
Tom Reinhold1.Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. -
The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers
Bernd Hähnlein1. Maria Kellner2. Maximilian Krey3. Alireza Nikpourian2. Jörg Pezoldt4. Steffen Michael2. Hannes Töpfer3. Stefan Krischok1. Katja Tonisch1.Sensors and Actuators A: Physical, Volume 345, 2022, 113784, ISSN 0924-4247, DOI: doi.org/10.1016/j.sna.2022.1137841FG Technische Physik 1, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN MacroNano(R)), Technische Universität Ilmenau, Postfach 100565, Ilmenau, 98684, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 3FG Theoretische Elektrotechnik, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN MacroNano(R)), Technische Universität Ilmenau, Postfach 100565, Ilmenau, 98684, Germany. 4FG Nanotechnologie, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN MacroNano(R)), Technische Universität Ilmenau, Postfach 100565, Ilmenau, 98684, Germany.