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Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control
Georg Gläser1. Gregor Nitsche2. Eckhard Hennig3.Languages, Design Methods and Tools for Electronic System Design, Selected Contributions from FDL 2015, ISBN 978-3-319-31722-9, pages 125-1501IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. 2OFFIS - Institut für Informatik Oldenburg, Germany. 3Hochschule Reutlingen, D-72762 Reutlingen, Germany. -
Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control
Georg Gläser1. Gregor Nitsche2. Eckhard Hennig3.Specification and Design Languages (FDL), 2015 Forum on, 14-16 Sept. 2015, Barcelona, Spain, (Best-Paper-Award), DOI: dx.doi.org/10.1109/FDL.2015.7306358, Print ISBN - IEEE Xplore 978-1-4673-7735-51IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, D-98693 Ilmenau, Germany. 2OFFIS - Institut für Informatik Oldenburg, Germany. 3Hochschule Reutlingen, D-72762 Reutlingen, Germany. -
Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz
Björn Bieske1. Ludwig Kircher2. Alexander Rolapp1.33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. 2TU Ilmenau, Germany. -
Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation
J. Zellmann1.IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich
B. Bieske1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Test mit Zukunft - Smart PXI
M. Konrad1. K. Förster2.Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.20111Konrad GmbH, Radolfzell, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Talk -
Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Article -
Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen
M. Meister1. A. Rolapp1. I. Gryl1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren
St. Michael1.4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk