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  71. Parameter extraction such as layer thickness and stress at wafer level for process monitoring in semiconductor manufacturing  
Steffen Michael, Waldbronn, Germany 2026 Microstructure User Meeting 2026, Symposium zur optischen Schwingungsmessung  
Veranstaltung
  72. Microstructure User Meeting 2026  
Symposium zur optischen Schwingungsmessung  
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  73. Understanding optically detected magnetic resonance (ODMR) of InSi-Sii-defects  
Kevin Lauer, Bernd Hähnlein, Mario Bähr, Kai Kühnlenz, Philipp Kellner, Dirk Schulze, Stefan Krischok, Alexander Rolapp, Christian Möller, Thomas Ortlepp, Technische Universität Dresden, Dresden, Germany 2026 DPG-Frühjahrstagung (DPG Spring Meeting) of the Condensed Matter Section (SKM)  
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  74. Thermal Analysis of a Coil Assembly in a Nanopositioning Drive System via Reduced-Complexity CFD Modeling  
Ina Naujokat, Ludwig Herzog, Steffen Hesse, Parastoo Salimitari, 2026 Applied Sciences  
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  75. WirelessAccel  
gestapelte Betonsteine Das IMMS entwickelt eine drahtlose Vibrationsmessung für eine emissionsärmere Betonsteinproduktion.  
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  76. Sensorbasierte Evaluierung der Trockenstresstoleranz bei Apfel (Malus × domestica)  
Stefanie Reim, Veronika Schöniger, Silvia Krug, Tino Hutschenreuther, Erfurt, Germany 2026 58. Gartenbauwissenschaftliche Jahrestagung „Ressourceneinsparung im Gartenbau: Wie Technologie den Gartenbau nachhaltiger gestaltet“  
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  77. Evaluierung und Test der Empfangsleistung von Funksystemen  
Björn Bieske, Michael Schenk, Potsdam, Germany 2026 38. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2026)  
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  78. Digitale Lösungen für den Obstbau: Assistenzsystem Obstverarbeitung – Digitaler Obstsorten-Zwilling  
Marco Götze, Lukas Oehm, Güstrow, Mecklenburg-Vorpommern, Germany 2026 Obstbautag Mecklenburg-Vorpommern 2026  
Veranstaltung
  79. Obstbautag MV 2026  
Unreife Kirsche am Baum, die von einer Metallkonstruktion umklammert wird. Obstbautag Mecklenburg-Vorpommern 2026  
Veranstaltung
  80. TuZ 2026  
38. ITG/GMM/GI-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen  
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