Aktuelle Publikation
Understanding optically detected magnetic resonance (ODMR) of InSi-Sii-defects
Kevin Lauer1,2, Bernd Hähnlein1, Mario Bähr1, Kai Kühnlenz1, Philipp Kellner1, Dirk Schulze2, Stefan Krischok2, Alexander Rolapp3, Christian Möller1, Thomas Ortlepp1
DPG-Frühjahrstagung (DPG Spring Meeting) of the Condensed Matter Section (SKM), , Technische Universität Dresden, Dresden, Germany
1CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH, Konrad-Zuse-Str. 14, 99099 Erfurt, Germany, 2Technische Universität Ilmenau, Institut für Physik, Weimarer Str. 32, 98693 Ilmenau, Germany, 3IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany