1714 Ergebnisse
Referenz
  761. Interferometrically controlled, scalable x-y planar positioning stage concept  
Ilko Rahneberg, Enrico Langlotz Denis Dontsov Steffen Hesse Jaqueline Stauffenberg Eberhard Manske Special Interest Group Meeting: Micro/Nano Manufacturing, 17 – 18 November 2021, Virtual  
Referenz
  762. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS  
C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. http://141.30.123.140/feinwerkwiki/index.php/5._Tagung_Feinwerktechnische_Konstruktion  
Referenz
  763. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS  
C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer. Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. 03.11.2011  
Referenz
  764. Interferometric controlled planar positioning system with zerodur slider  
S. Hesse, C. Schäffel H-U. Mohr H.-J. Büchner Ilmenau. In Proceedings. 56. Int. wissenschaftliches Kolloquium der TU Ilmenau. URN: urn:nbn:de:gbv:ilm1-2011iwk-103:1  
Referenz
  765. Interferometric controlled planar positioning system with zerodur slider  
S. Hesse, C. Schäffel H-U. Mohr H.-J. Büchner Ilmenau: 56. IWK der TU Ilmenau. 12.09. - 16.09.2011  
Referenz
  766. Interferometric controlled planar nanopositioning system with 100mm circular travel range  
S. Hesse, C. Schäffel M. Katzschmann H.-J. Büchner Denver, USA: ASPE 26th Annual Meeting of the American Society for Precision Engineering. in Proceedings, CD-ROM  
Referenz
  767. Intelligentes Power-Management drahtloser Sensorsysteme  
T. Rossbach, Suhl: elmug4future, 05.07. - 06.07.2011  
Referenz
  768. Intelligentes Power-Management drahtloser Sensorsysteme  
T. Rossbach, Suhl: elmug4future. 05.07. - 06.07.2011  
Referenz
  769. Intelligentes Design: KI für EDA?  
Georg Gläser, edaWorkshop23, 8. - 9. Mai 2023, Hannover, Germany  
Forschungsfeld
  770. Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme  
Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme: Integrierte Sensor-ICs sind das Herz von Sensor- und Messsystemen wie Funksensoren, stationäre und Handheld-Diagnosegeräte. Wir forschen an Lösungen für immer leistungsfähigere Sensoren mit mehr Eigenintelligenz und Aufgabenverteilung im Sensornetz.  
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