Presseinformationen
MEDICA 2016: IMMS setzt Mikroelektronik für die Vor-Ort-Diagnostik ein
Testaufbau mit Live-Demo für die individualisierte Krebsfrüherkennung in Halle 3 / Stand G60
Ilmenau, 15.10.2016. Zur MEDICA 2016 zeigt das IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH anhand eines Testaufbaus erste Ansätze für die individualisierte Krebsdiagnostik aus dem im Juni 2016 gestarteten dreijährigen Forschungsprojekt INSPECT.
Das IMMS konzentriert sich darauf, verschiedene Detektionsprinzipien für biologische und chemische Größen in einem elektronischen Sensorelement zu integrieren, um präzise Diagnosen zu erhalten. Grundlage der Arbeiten sind kostengünstige Standard-CMOS-Fertigungsprozesse aus der Halbleiter-Elektronik, die für solche Ansätze applikationsspezifisch angepasst werden, z.B. durch spezielle Oberflächen-Funktionalisierung oder die Verwendung biokompatibler Materialien. Mit den Lösungen soll es in Zukunft möglich sein, Vor-Ort-Tests, z.B. zur Krebs-Früherkennung, schnell, zuverlässig, kosteneffizient und automatisiert durchzuführen.
Im Projekt INSPECT werden Systeme erforscht und entwickelt, mit denen sich Brust-, Gebärmutter-, Prostata- und Lungenkrebs mittels Halbleiter-Sensorchips und immunologischen und zellenbasierten biotechnologischen Verfahren früherkennen lassen. Für die Signalauswertung wird eine komplexe biologisch-mikroelektronische Schnittstelle erarbeitet. Darüber hinaus werden neue mikroelektronische Vor-Ort-Analyse-Konzepte und Prinzipien für individualisierte Krebs-Immuntherapien untersucht. Die Funktionstests der ersten miniaturisierten Diagnostiksysteme laufen derzeit. An den neuen Lösungen forschen das iba Institut für Bioprozess- und Analysenmesstechnik e.V. Heiligenstadt, die Senova Gesellschaft für Biowissenschaft und Technik mbH Weimar, die CDA GmbH Suhl und die X-FAB Semiconductor Foundries AG Erfurt gemeinsam mit dem IMMS, das die Arbeiten koordiniert.
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