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Referenz
742.
Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien
Referenz
743.
Messungen an elektrorheologischen Flüssigkeiten für die Dimensionierung von fluidischen Aktorarrays
Referenz
747.
Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen