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  592. Parameter extraction such as layer thickness and stress at wafer level for process monitoring in semiconductor manufacturing  
Steffen Michael, Waldbronn, Germany 2026 Microstructure User Meeting 2026, Symposium zur optischen Schwingungsmessung  
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  593. PANDIA  
IMMS entwickelt neuartige CMOS- und SPAD-Sensor-ICs für Spektroradiometer zur schnelleren und empfindlicheren Analyse von Licht  
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  594. Ovutinin  
Für einen innovativen Schnelltest zur Fertilitätsdiagnostik entwickelt das IMMS einen Bildsensor zur zeitaufgelösten Fluoreszenzmessung.  
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  595. Out-of-Band Over-The-Air-Update for LoRaWAN-based Sensor Networks using BLE  
Florian Jung, Silvia Krug, Tino Hutschenreuther, Bologna, Italy 2025 2025 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor)  
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  596. Out-of-Band Over-The-Air-Update for LoRaWAN-based Sensor Networks using BLE  
Florian Jung, Silvia Krug, Tino Hutschenreuther, Bologna, Italy 2025 2025 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor)  
Über uns
  597. Organisation  
Organisationsplan des IMMS. Foto: Kvalifik, Unsplash. Organisation: Hier finden Sie unser Organigramm, Informationen zur Institutsleitung, zu unseren Themenbereichen, unserem Aufsichtstrat und unserem wissenschaftlichem Beirat sowie Kontatdaten.  
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  598. OPV und TIA-Optimierung mit WiCkeD  
 
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  599. OptoMed-Vakuumluftlager  
Aufbau aus Metallrohren, Leitungen und Messgeräten auf einem Labortisch. Luftlager in Hochpräzisions-Vakuumanwendungen? Mit unseren Partnern loten wir das technisch Machbare dieses (scheinbaren) Widerspruchs aus.  
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