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  251. Superconductive Digital Magnetometers with Single-Flux-Quantum Electronics  
P. Febvre, Dr. T. Reich IEICE TRANSACTIONS on Electronics, Vol.E93-C, No.4, pp.445-452. Tokyo, Japan: Maruzen Co., Ltd  
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  252. Superconducting photosensitive interfaces for triggering RSFQ circuits  
P. Febvre, H. Töpfer Th. Ortlepp B. Ebert S. Badi F.H. Uhlmann 26.08. - 01.09.2006,2006 Applied Superconductivity Conference, Seattle, USA  
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  253. Superconducting Photosensitive Interface for Triggering RSFQ Circuits  
P. Febvre, H. Töpfer Th. Ortlepp B. Ebert S. Badi F.H. Uhlmann IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Vol. 17, No. 2, page 530-533, June 2007  
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  254. Strukturauswahl von Positioniersystemen durch Betrachtung der Funktionstopologie  
T. Erbe, R. Theska A. Frank F. Spiller VDI / VDE - Tagung 'Mechatronik 2009', 12. - 13. Mai 2009, Wiesloch  
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  255. Stromzange  
Die vom IMMS entwickelte Stromzange erfasst und bewertet Störsignale auf Datenleitungen laufender Industrieanlagen.  
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  256. Stressidentifikation dünner Membranstrukturen mittels dynamischer Messungen  
S. Michael, S. Voigt Dr. R. Knechtel 10. Chemnitzer Fachtagung Mikromechanik & Mikroelektronik, 20.10.-21.10.2010, Chemnitz  
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  257. Stress Identification of Thin Membrane Structures by Dynamic Measuarments. Aix-en-Provence  
S. Michael, C. Schäffel S. Voigt R. Knechtel France: Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP). S. 106-109. ISBN: 978-2-35500-013-3  
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  258. Stress Controlled Piezoeletric ALN-MEMS-Resonators with Molybdenum Electrodes for GHz Applications  
H. Mehner, K. Brueckner D. Karolewski S. Michael M. A. Hein M. Hoffmann 23rd Micromechanics and Microsystems Europe Workshop (MME), 2012, in Proceedings, Session C.06, online: https://www.tu-ilmenau.de/fileadmin/media/mme2012/Proceedings/Session_C/C06_1642_MME2012_120622.pdf  
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  259. Strategische Weiterentwicklung des Instituts für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gGmbH  
G. Scarbata, F & E Report, Ilmenau, April 2002  
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  260. Strategies for Initial Sizing and Operating Point Analysis of Analog Circuits  
V. Boos, J. Nowak S. Henker S. Höppner Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. 14.-18.03.2011  
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