251. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation   Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173  

  252. Technology Setup for WiCkeD in X-FAB CMOS and BiCMOS Process for Automotive and Sensor Applications   V. Boos, MunEDA User Group Meeting Europe 2007, 25.-26. September 2007, München  

  253. Technology and Design of RSFQ Circuits for Operation at High Temperatures   D. Cassel, Th. Ortlepp B. Kuhlmann R. Dittmann H. Töpfer Siegel F.H. Uhlmann 336. WE-Heraeus-Seminar Processing of Quantum Information in RSFQ Circuits and Qubits, 29.11.-1.12. 2004, Bad Honnef  

  254. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung   T. Hutschenreuther, H. Töpfer Gera: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 09.03.2011  

  255. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung   T. Hutschenreuther, H. Töpfer Erfurt: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 21.03.2011  

  256. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung   T. Hutschenreuther, H. Töpfer Suhl: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 24.3.2011