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Referenz
  201. thurAI  
Messmodul für die Anbindung unterschiedlicher Sensoren an eine Umweltmonitoring-Plattform. Das IMMS arbeitet in thurAI an Sensorik für SmartCity und Methoden, Daten im Netz für KI-Auswertungen intelligent aufzubereiten.  
Referenz
  202. Thomas Freitag, Melexis  
„Das IMMS begleitet uns seit Jahren bei der Entwicklung und Verfeinerung unserer ICs, wie z.B. für die LIN-basierte Ansteuerung von RGB-LEDs. Wir planen, auch in Zukunft weiter mit dem IMMS zu kooperieren und auf die Kompetenz des Instituts zu bauen.“  
Veranstaltung
  203. Think Wireless IoT Day  
Think Wireless IoT Day on Healthcare and Security  
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  204. Thick Copper Re-Distribution Layer for Integrated High Voltage Transistors  
Ralf Lerner, Klaus Heinrich Marco Erstling Peter Kornetzky 14th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS), 29-31 August 2018, Prague, Czech Republic  
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  205. THERMULAB  
Die entwickelte hochgenaue Sensorelektronik arbeitet bei 150 °C und macht Industrieanlagen und Verbrennungsmotoren effizienter.  
Referenz
  206. Thermal Modeling and Measurement of a Power Amplifier Module for a Silicon-Ceramic Substrate  
Astrid Frank, V. Silva Cortes Steffen Michael A. Hagelauer G. Fischer 2018 11th German Microwave Conference (GeMiC), Freiburg, 12-14 March 2018, pp. 79-82. DOI: https://doi.org/10.23919/GEMIC.2018.8335033  
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  207. Thermal Channel Noise of quarter and sub-quarter micron NMOS FET's  
G. Knoblinger, P. Klein U. Baumann ICMTS 2000, USA, CA, Monterey, März 2000  
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  208. Thermal Analysis of a Coil Assembly in a Nanopositioning Drive System via Reduced-Complexity CFD Modeling  
Ina Naujokat, Ludwig Herzog Steffen Hesse Parastoo Salimitari Applied Sciences 2026, 16, 2748. DOI: https://doi.org/10.3390/app16062748  
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  209. There is a limit to everything: Automated AMS Operating condition check Generation on System Level  
Georg Gläser, Martin Grabmann Gerrit Kropp Andreas Fürtig Integration, Volume 63, 2018, Pages 383-391, ISSN 0167-9260, DOI: https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.016  
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  210. Themenkreis Virtual Test und automatische Testplangenerierung aus ATML  
D. Glaser, P. Lu K. Helmreich I. Gryl M. Meister A. Lechner M. Jegler Z. Kiss Virtuelle Instrumente in der Praxis VIP 2010, 27.10.-28.10.2010, München, Proceedings  
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