1710 Ergebnisse
Dienstleistung
  191. Test und Charakterisierung  
Dienstleistung Test und Charakterisierung: Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.  
Referenz
  192. Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen  
M. Meister, A. Rolapp I. Gryl 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
Referenz
  193. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  
Referenz
  194. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  
Referenz
  195. Test mit Zukunft - Smart PXI  
M. Konrad, K. Förster Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.2011  
Referenz
  196. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich  
B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
Referenz
  197. Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation  
J. Zellmann, IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau  
Referenz
  198. TESCA  
Der Antrieb für eine Terahertz-Kamera ermöglicht Sicherheits-Checks, bei denen Personen im Vorbeigehen auf versteckte Gegenstände untersucht werden.  
Referenz
  199. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz  
Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online  
Referenz
  200. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control  
Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Languages, Design Methods and Tools for Electronic System Design, Selected Contributions from FDL 2015, ISBN 978-3-319-31722-9, pages 125-150  
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