191. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich   B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  

  192. Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation   J. Zellmann, IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau  

  194. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz   Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online  

  195. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control   Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Languages, Design Methods and Tools for Electronic System Design, Selected Contributions from FDL 2015, ISBN 978-3-319-31722-9, pages 125-150  

  196. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control   Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Specification and Design Languages (FDL), 2015 Forum on, 14-16 Sept. 2015, Barcelona, Spain, (Best-Paper-Award), DOI: http://dx.doi.org/10.1109/FDL.2015.7306358, Print ISBN - IEEE Xplore 978-1-4673-7735-5  

  197. Temperaturfeldberechnungen in der Mikromechanik   K. Rettig, 16. CAD-FEM User Meeting, Bad Neuenahr-Ahrweiler, Oktober 1998  

  198. Teilprojekt A5 - Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche   Steffen Hesse, Forschungsergebnisse 2002-2013, Abschlusspräsentation SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen, Ilmenau, 29.05.2013  

  199. Teilprojekt A5 - Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche   Steffen Hesse, Forschungsergebnisse 2002-2013, Abschlusspräsentation SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen, Ilmenau, 29.05.2013  

  200. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation   Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173