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Referenz
1686.
Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen
Referenz
1687.
Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
Referenz
1688.
Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen