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Mediathek
  1671. 2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Modellierung (en/de)  
2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Modellierung (en/de): Maschinelles Lernen zur automatisierten Modellierung im Chip-Entwurf  
Mediathek
  1672. 2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Test (en/de)  
2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Test (en/de): Testen auf der Überholspur – Machine Learning beschleunigt Messdaten-Analyse für ASICs um ein Vielfaches  
Veranstaltung
  1673. InnoCON Thüringen 2021  
Die diesjährige InnoCON steht unter dem Motto „Mit der Thüringer Innovationsstrategie 2021 – 2027 die Herausforderungen unserer Zeit wie die digitale Transformation und die Dekarbonisierung angehen.“  
Referenz
  1674. Evaluation of 2D-/3D-Feet-Detection Methods for Semi-Autonomous Powered Wheelchair Navigation  
Cristian Vilar Giménez, Silvia Krug Faisal Z. Qureshi Mattias O’Nils Journal of Imaging, vol. 7, no. 12, p. 255, Nov. 2021, DOI: https://doi.org/10.3390/jimaging7120255  
Pressemitteilungen
  1675. Von einem der weltweit ersten USB-Hubs zur KI  
Video auf YouTube ansehen. Video 25 Jahre IMMS – Transfers aus der Grundlagenforschung in die Industrie  
Pressemitteilungen
  1676. Schnelles Nachweissystem für Multiresistenzen bei Tuberkuloseinfektionen  
Acht Partner aus Forschung und Industrie starten BMBF-Projekt FluoResYst  
Referenz
  1677. Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur  
Tom Reinhold, Georg Gläser Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2201D  
Referenz
  1678. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts  
Georg Gläser, Julian Kuners Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2203D  
Veranstaltung
  1679. TuZ 2022  
34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen  
Referenz
  1680. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  
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