1471. Anordnung von Referenzmarken auf Messrasterplatten und Referenzmarkensensoren auf dem dazugehörigen optoelektronisch arbeitenden Messkopf   V. Bornmann, H.-U. Mohr Ch. Schäffel Deutsche Patentmeldung DE 102 30 614.1-52, Juli 2002  

  1472. Anknüpfungspunkte für das Clusterforschungsprojekt ANCONA – Ideen der Projektpartner zur Überführung in die industrielle Anwendung   Georg Gläser, Andreas Fürtig Markus Olbrich Gregor Nitsche Fabian Speicher Christoph Grimm Newsletter edacentrum 01/02 2017, 2. Dezember 2017  

  1473. Anhörung zur Problematik Ingenieurnachwuchs   F. Rößler, Thüringer Landtag, Erfurt, Juni 2000  

  1474. Anforderungen an FSM-Tools beim hierarchischen Entwurf paralleler digitaler Steuerungen   W. Kattanek, 42. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, September 1997, Ilmenau  

  1475. Anforderungen an FSM-Tools beim hierarchischen Entwurf paralleler digitaler Steuerungen   W. Kattanek, In: 42. Internationales Wissenschaftliches Kolloqium Band 1, S. 498-503. Technische Universität Ilmenau, 1997  

  1476. Anforderungen an FSM-Tools beim hierachischen Entwurf paralleler digitaler Steuerungen   W. Kattanek, In: 42. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium Band 1, S. 498-503. Technische Universität Ilmenau, 1997  

  1477. Anforderungen an den Entwurf von elektronischen Leistungsstellgliedern kleiner Leistungen   K. Förster, Beitrag zum Konzept Design Cluster Mikrosystemtechnik/Mechatronik, STIFT, Erfurt, Juli 1997  

  1479. ANCONA - Analog/Mixed-Signal Verifikationsmethoden für die AMS Coverage-Analyse   Andreas Fürtig, Lars Hedrich, Georg Gläser, Ralf Sommer Christoph Grimm Stefan Heinen Hyun-Sek Lukas Lee, Markus Olbrich Gregor Nitsche Ralf Popp Thiyagarajann Purusothaman, Carna Radojicic Fabian Speicher Dieter Treytnar Newsletter edacentrum 01/02 2016, Seite 05-20