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1755 Ergebnisse
Referenz
1383.
Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen
Referenz
1384.
Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
Referenz
1385.
Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen
Referenz
1386.
Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques