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Referenz
1353.
Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)
Referenz
1354.
Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)
Referenz
1355.
A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference
Referenz
1356.
A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference
Referenz
1357.
Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen