1331. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)   Björn Bieske, Klaus Heinrich 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013-06.03.2013  

  1332. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)   Björn Bieske, Klaus Heinrich 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  

  1333. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference   Jun Tan, Marco Reinhard Dirk Nuernbergk Eckhard Hennig 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013 - 06.03.2013  

  1334. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference   Jun Tan, Marco Reinhard Dirk Nuernbergk Eckhard Hennig 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  

  1335. Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen   Björn Bieske, Andre Jäger 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013-06.03.2013  

  1336. Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen   Björn Bieske, Andre Jäger 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  

  1340. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests   Björn Bieske, Alexander Schulz 25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 24.02.2013 - 26.02.2013