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Pressemitteilungen

1081. MEMS-Entwurfsmethodik mit EDA Achievement Award 2015 geehrt

Der EDA Achievement Award 2015 ging an IMMS und TU Ilmenau für Arbeiten an einer durchgängigen MEMS-Design-Methodik. Foto: IMMS.

Methodik von IMMS und TU Ilmenau erschließt kostengünstige MEMS-Entwicklungen und neue Applikationen.

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1082. MEMS-T-Lab

Im MEMS-Testlabor nimmt das IMMS hochkomplexe Messungen für komplette Wafer in einem neuen Automatisierungsgrad vor. Foto: IMMS.

Im MEMS-T-Lab nimmt das IMMS hochkomplexe teilautomatisierte Messungen für komplette MEMS-Wafer vor

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1083. MEMS-Vibro3D

Messplatz zur Erfassung von 3D-Schwingungen an MEMS. Foto: IMMS.

Forschungsinfrastruktur für neue MEMS-Generation: 3D-Vibrometersystem und Breitband-Verstärkersystem.

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1084. MEMS2015

Mit dem am IMMS entwickelten Design-Tool entworfenes MEMS-Design für einen Beschleunigungssensor. Foto: IMMS.

Ein am IMMS entwickeltes Entwurfswerkzeug generiert Mechanik-Designs automatisch und ermöglicht MEMS-Gesamtsystemsimulationen.

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1085. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik

Volker Boos, Ralf Popp Mirco Meiners D. Meisel A. Müller in Newsletter edacentrum, 01/2013

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1086. Messtechnisch gestützte Beratung und Analyse des Kosteneinsparpotenzials

H. Töpfer, Gera: Enterprise Europe Network Thüringen- Unternehmerworkshop. 13.04.2011

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1087. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)

Björn Bieske, Ingo Gryl Pierre Wenke Martin Jäger Jörg Steinecke Xiao Liu 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany

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1088. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen

Marco Reinhard, Alexander Rolapp Benjamin Saft Michael Meister 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee

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1089. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests

Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany

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1090. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden

M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006