IMMS - Suche

Referenz

1041. Hochtemperatur-Wafertest bis 300°C

Marco Reinhard, Ulrich Liebold, André Richter, Ingo Gryl, Siegen, Germany 2016 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen (TuZ 2016)

Pressemitteilungen

1042. Hohe Qualität der wissenschaftlichen Arbeit am IMMS

Wir verbinden die digitale mit der analogen Welt. Foto: IMMS.

Wir stehen für eine hohe Qualität der wissenschaftlichen Arbeit am IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH. Unsere Regeln für die Sicherung guter wissenschaftlicher Praxis und den Umgang mit wissenschaftlichem Fehlverhalten finden sie in folgendem Dokument:GL-Mitteilung Nr. 61-2024 Richtlinie zur Sicherung guter wissenschaftlicher Praxis und für den Umgang mit wissenschaftlichem Fehlverhalten in der IMMS GmbH nach den Empfehlungen der DFG Diese GL-Mitteilung ersetzt die Nr. 61-2023 §1 Grundsätze §2 Berufsethos §3 Organisationsverantwortung der…

Referenz

1043. HoLoDEC

Nahaufnahme einer Fräsmaschine, an die eine etwa 2 x 2 cm kleine kabellose Platine mit Sensoren und einer leuchtenden LED gehalten wird.

IMMS erforscht Ultra-Low-Power-Architekturen (ULP) und Schaltungskonzepte sowie energieeffiziente Edge-KI-Systeme mit Gesamtsystem-Energiemodellierung

Referenz

1044. Hörbarmachung von Ultraschallsignalen

Peter Holstein, Nicki Bader, Andreas Tharandt, R. John, Sebastian Uziel, D. Januszko, Tino Hutschenreuther, Aachen, Germany 2016 Fortschritte der Akustik - DAGA 2016, 42. Jahrestagung für Akustik

Referenz

1045. Hot Fuzz: Assisting verification by fuzz testing microelectronic hardware

Henning Siemen, Jonas Lienke, Georg Gläser, Funchal, Portugal 2023 2023 19th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD)

Referenz

1046. HoTSens

Tests für einen am IMMS entwickelten Hochtemperatur-ASIC für hochpräzise Messungen. Foto: IMMS.

Integrierte Sensorik und Mikroelektronik arbeiten bei 300°C und ermöglichen damit effizientere Prozesse

Referenz

1047. HTS Multilayer Technology for Optimal Bit-Error Rate RSFQ Cells

Referenz

1048. HTS SFQ circuit design

Referenz

1049. HW/SW-Co-Entwurf einer intelligenten Sensor-Schnittstelle mit Hilfe eines schnellen, Zyklenzahl-genauen, RTL-nahen Befehlssatz-Simulators

Referenz

1050. Hybrid Characterization and Reconstruction of Transient Thermal Fields in 6-DOF Nanopositioning Systems

Parastoo Salimitari, Ina Naujokat, Ahmed Rahat, Amin Suaad, Ludwig Herzog, Tino Hutschenreuther, Karlsruhe, Germany 2026 2026 PI Symposium on Mechatronics System Design