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Wissenschaftliche Publikationen

Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.

1226 Ergebnisse
  • Design Methodology for Application-Specific Electromagnetic Energy Harvesters

    Bianca Leistritz1, Wolfram Kattanek1
    59th Ilmenau Scientific Colloquium, Session 4.2. – Processes and Methods, , Ilmenau
    1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany
  • Design Methodology for heterogeneous Machine Vision Systems

    F. Czerner. J. Zellmann1. J. Lioubov. U. Neuhäuser.
    GSPx/ISPC, 31.3.-3.4.2003, Dallas / USA
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
    Vortrag
  • Design of a Capacitive Humidity Sensor Frontend with an Adaptive Resolution for Energy Autonomous Applications

    Maximilian Wiener1, Benjamin Saft1
    2019 15th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), , Lausanne, Switzerland, pp. 137-140, DOI: doi.org/10.1109/PRIME.2019.8787836
    1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany
  • Design of a High-Speed Photodetector IC for Blu-ray Disc R/W Systems

    R. Sommer1,2. D. Krauße2. E. Schäfer1. E. Hennig1.
    Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. 14.-18.03.2011
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Technische Universität Dresden.
    Vortrag
  • Design of a Power Amplifier Module in a Novel Silicon-Ceramic Substrate for an LTE Transmitter

    Victor Silva Cortes1, L. Liu1, Uwe Stehr2, Astrid Frank3, Vikrant Chauhan1, Matthias A. Hein2, Jens Müller2, Robert Weigel1, Amelie Hagelauer1
    Asia Pacific Microwave Conference 2017, , Kuala Lumpur
    1Friedrich Alexander University Erlangen-Nuremberg, Institute for Electronics Engineering, Cauerstr. 7, 91058 Erlangen, Germany, 2Technical University of Ilmenau, Institute for Micro- and Nanotechnologies (IMN) MacroNano®, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 3IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany
  • Design of a superconductor-to-semiconductor interface circuit for high data rates

    Th. Ortlepp1. H. Töpfer2. S. Wünsch1. R. Schwemlein1. J. Flamm1. E. Crocoll2. M. Siegel1. F. H. Uhlmann1.
    ISEC 2005, 05.-09.09. 2005, Noordwijkerhout / Niederlande
    1TU Ilmenau. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
    Posterpräsentation
  • Design of a superconductor-to-semiconductor interface circuit for high data rates

    Th. Ortlepp1. H. Töpfer2. S. Wünsch1. R. Schwemlein1. J. Flamm1. E. Crocoll2. M. Siegel1. F. H. Uhlmann1.
    Poster 336. WE-Heraeus-Seminar Processing of Quantum Information in RSFQ Circuits and Qubits, 29.11.-1.12. 2004, Bad Honnef
    1TU Ilmenau. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
    Posterpräsentation
  • Design of a Test Station for Magnetoelectric Sensor Development

    Maximilian Krey1, Hannes Toepfer1, Roman Paris2, Thomas Froehlich3
    2019 19th International Symposium on Electromagnetic Fields in Mechatronics, Electrical and Electronic Engineering (ISEF), , Nancy, France, pp. 1-2, DOI: doi.org/10.1109/ISEF45929.2019.9097048
    1Technische Universität Ilmenau, Department of Electrical Engineering and Information Technology, Institute for Information Technology, Advanced Electromagnetics Group, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 3Technische Universität Ilmenau, Department of Mechanical Engineering, Process Measurement Technology Group, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany
  • Design of an interferometric test station for parallel inspection of MEMS

    C. Schäffel1. S. Michael1. R. Paris1. A. Frank1. N. Zeike1. K. Gastinger2. M. Kujawinska3. U. Zeitner4. S. Beer5.
    Ilmenau. In Proceedings. 56. Int. wissenschaftliches Kolloquium der TU Ilmenau. URN: urn:nbn:de:gbv:ilm1-2011iwk-098:5
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstr. 27, D-98693 Ilmenau, Germany. 2NTNU Trondheim, before SINTEF IKT Optical measurement systems and data analysis, N-7465 Trondheim, Norway. 3Institute of Micromechanics and Photonics, Warsaw University of Technology, 8 Sw. A. Boboli St.,Pl-02-525 Warsaw, Poland. 4Fraunhofer IOF, A.-Einstein-Str. 7, 07745 Jena, Germany. 5CSEM Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique SA, Technoparkstr. 1, CH-8005 Zurich, Switzerland.
    Fachartikel
  • Design of an interferometric test station for parallel inspection of MEMS

    C. Schäffel1. S. Michael1. R. Paris1. A. Frank1. N. Zeike1. K. Gastinger2. M. Kujawinska3. U. Zeitner4. S. Beer5.
    Ilmenau: 56. IWK der TU Ilmenau. 12.09. - 16.09.2011
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstr. 27, D-98693 Ilmenau, Germany. 2NTNU Trondheim, before SINTEF IKT Optical measurement systems and data analysis, N-7465 Trondheim, Norway. 3Institute of Micromechanics and Photonics, Warsaw University of Technology, 8 Sw. A. Boboli St.,Pl-02-525 Warsaw, Poland. 4Fraunhofer IOF, A.-Einstein-Str. 7, 07745 Jena, Germany. 5CSEM Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique SA, Technoparkstr. 1, CH-8005 Zurich, Switzerland.
    Vortrag
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