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Rauschparametermessungen an HF-CMOS u. Si/SiGe-HBT`s

U. Baumann1.

Kamp-Lintfort, ITG 9.1 Diskussionssitzung, Oktober 2001

1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
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