1711 Ergebnisse
Referenz
  941. Intelligente Signalanalyse- und Assistenzsysteme mit KI in der Produktion  
Peter Hauschild, Tino Hutschenreuther Workshop zum Themenschwerpunkt „KI-Geschäftsmodelle“ mit dem Thema „KI verändert Produktionsprozesse“, 26. März 2024, ZAKI, Zentrum für Angewandte künstliche Intelligenz, Jena  
Pressemitteilungen
  942. Intelligente Strommesszange erfasst Störströme in Industrieanlagen  
Vorgestellt vom IMMS auf der embedded world 2015, Halle 4, Stand 160 (OSADL-Gemeinschaftsstand).  
Forschungsfeld
  943. Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme  
Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme: Integrierte Sensor-ICs sind das Herz von Sensor- und Messsystemen wie Funksensoren, stationäre und Handheld-Diagnosegeräte. Wir forschen an Lösungen für immer leistungsfähigere Sensoren mit mehr Eigenintelligenz und Aufgabenverteilung im Sensornetz.  
Referenz
  944. Intelligentes Design: KI für EDA?  
Georg Gläser, edaWorkshop23, 8. - 9. Mai 2023, Hannover, Germany  
Referenz
  945. Intelligentes Power-Management drahtloser Sensorsysteme  
T. Rossbach, Suhl: elmug4future, 05.07. - 06.07.2011  
Referenz
  946. Intelligentes Power-Management drahtloser Sensorsysteme  
T. Rossbach, Suhl: elmug4future. 05.07. - 06.07.2011  
Referenz
  947. Interferometric controlled planar nanopositioning system with 100mm circular travel range  
S. Hesse, C. Schäffel M. Katzschmann H.-J. Büchner Denver, USA: ASPE 26th Annual Meeting of the American Society for Precision Engineering. in Proceedings, CD-ROM  
Referenz
  948. Interferometric controlled planar positioning system with zerodur slider  
S. Hesse, C. Schäffel H-U. Mohr H.-J. Büchner Ilmenau. In Proceedings. 56. Int. wissenschaftliches Kolloquium der TU Ilmenau. URN: urn:nbn:de:gbv:ilm1-2011iwk-103:1  
Referenz
  949. Interferometric controlled planar positioning system with zerodur slider  
S. Hesse, C. Schäffel H-U. Mohr H.-J. Büchner Ilmenau: 56. IWK der TU Ilmenau. 12.09. - 16.09.2011  
Referenz
  950. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS  
C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. http://141.30.123.140/feinwerkwiki/index.php/5._Tagung_Feinwerktechnische_Konstruktion  
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