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781. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik

Veranstaltung

782. AMA-Seminar unter IMMS-Leitung in Stuttgart

Unter der wissenschaftlichen Leitung von Prof. Dr.-Ing. Hannes Töpfer findet am 19. Februar 2013 das Weiterbildungsseminar „Eingebettete Systeme – Auf dem Weg zum Smarten Sensor“ in Stuttgart statt. Es gehört seit Jahren zum festen Weiterbildungsangebot des AMA Fachverbandes für Sensorik e.V. In der Veranstaltung wird grundlegend auf den Aufbau, Inbetriebnahme und Programmierung eingebetteter Systeme und auf Open-Source-Ansätze eingegangen und gezeigt, wie diese Systeme mit bestehender PC-Infrastruktur programmiert und getestet werden können. Die Umsetzung in…

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783. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests

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784. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests

Veranstaltung

785. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

Der Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“ (TuZ) ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergebnisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal- und HF-Schaltungen zu diskutieren. Der Austausch von Ideen zwischen Experten aus Industrie und Hochschule auf diesem Fachgebiet ist ein wichtiges Anliegen des Workshops. Der 25. Workshop TuZ 2013 wird vom 24. bis 26. Februar 2013 in Dresden stattfinden. Organisiert wird die Veranstaltung vom Institutsteil Entwurfsautomatisierung EAS des…

Veranstaltung

786. embedded world 2013

BASe-Box - "Alleskönner" für die Gebäudeautomation

Pressemitteilungen

787. BMBF-Projekt MEMS 2015

Wir verbinden die digitale mit der analogen Welt. Foto: IMMS.

Forscher gehen völlig neue Wege bei der Entwicklung von Mikro-Elektromechanischen Systemen (MEMS)

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788. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)

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789. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)

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790. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference