1711 Ergebnisse
Referenz
  681. Ergebnisse von Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zum Entwurf analog-digitaler Mikroelektronik  
G. Scarbata, VDI/VDE Veranstaltung des Thüringer Bezirksvereins e.V., F. Schiller Uni Jena, Januar 1997  
Referenz
  682. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie  
U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999  
Referenz
  683. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils  
M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  
Referenz
  684. Erhöhung von Integrationsgrad und Ausbeute für ISM-Band Empfänger-ICs durch BISC  
P. Teichmann, 1. EDA-Workshop 07, 19.-20. Juni 2007, Hannover  
Über uns
  685. Eric Schäfer, M. Sc.  
Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt  
Referenz
  686. EROLEDT  
Das IMMS hat einen ASIC entwickelt, mit dem organische LEDs energieeffizient über eine lange Lebensdauer betrieben werden können.  
Referenz
  687. Erschließung maschinellen Lernens und künstlicher Intelligenz für neue Anwendungsgebiete  
Georg Gläser, InnoCON Thüringen 2019, Intelligent.Digital.Vernetzt, 13. November 2019, Multifunktionsarena, Erfurt  
Pressemitteilungen
  688. Erste Prototypen im neuen MEMS-Testlabor am IMMS charakterisiert  
Ilmenau, 30. Juli 2014. Das IMMS hat die Charakterisierung von ersten Prototypen eines Cantilever-Readout-ASICs im neuen Testlabor für MEMS-basierte Mikrosysteme „MEMS-T-Lab“ erfolgreich abgeschlossen.  
Pressemitteilungen
  689. Erster Open Roberta Coding Hub in Mitteldeutschland gegründet  
TU Ilmenau, Fraunhofer IDMT und IMMS machen Programmierwelten für Kinder spielerisch erlebbar  
Referenz
  690. Erweitertes Smart Metering zur verbesserten Verbrauchsanalyse und für neuartige Smart Home Services  
M. Götze, Lichtenwalde: Leibniz-Konferenz. 12.05.2011  
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