681. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht   Dr. W. Sinn, TU Ilmenau (Ringvorlesung), 08.06.2010, Ilmenau  

  682. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag   W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006  

  683. Ergebnisse von Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zum Entwurf analog-digitaler Mikroelektronik   G. Scarbata, VDI/VDE Veranstaltung des Thüringer Bezirksvereins e.V., F. Schiller Uni Jena, Januar 1997  

  684. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie   U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999  

  685. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  686. Erhöhung von Integrationsgrad und Ausbeute für ISM-Band Empfänger-ICs durch BISC   P. Teichmann, 1. EDA-Workshop 07, 19.-20. Juni 2007, Hannover  

  689. Erschließung maschinellen Lernens und künstlicher Intelligenz für neue Anwendungsgebiete   Georg Gläser, InnoCON Thüringen 2019, Intelligent.Digital.Vernetzt, 13. November 2019, Multifunktionsarena, Erfurt