Ingo Ortlepp,
Michael Kühnel, Martin Hofmann, Laura Weidenfeller
Johannes Kirchner, Shraddha Supreeti
Rostyslav Mastylo, Mathias Holz
Thomas Michels, Roland Füßl
Ivo W. Rangelow, Thomas Fröhlich
Denis Dontsov
Christoph Schäffel
Eberhard Manske
Proc. SPIE 11324, Novel Patterning Technologies for Semiconductors, MEMS/NEMS and MOEMS 2020, 113240A (23 March 2020), DOI: https://doi.org/10.1117/12.2551044
Björn Bieske,
Tom Reinhold
Jun Tan
32. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2020), 16. - 18. Februar 2020, Ludwigsburg, Germany
,
Jun Tan
Muralikrishna Sathyamurthy
Alexander Rolapp
Jonathan Gamez
Moataz Elkharashi
Benjamin Saft
Sylvo Jäger
Ralf Sommer
in IEEE Journal of Radio Frequency Identification, vol. 4, no. 1, pp. 3-13, March 2020, DOI: https://doi.org/10.1109/JRFID.2020.2967862
„Wir können uns nicht nur auf eine gleichbleibend hohe Qualität, höchste Termintreue und flexible Reaktionen auf applikationsbedingte Änderungen verlassen, sondern profitieren von der proaktiven Zusammenarbeit mit Ideen und Verbesserungsvorschlägen und können das IMMS daher uneingeschränkt als Testdienstleister für die Industrie empfehlen.“
„Wir fanden nicht nur den Architekturentwurf des IMMS als solchen überzeugend, sondern auch die Unterstützung bei der Anbindung unserer Anwendung an den MQTT-Standard. Sowohl beim gemeinsamen Feldtest in Jena als auch während der gesamten Projektlaufzeit standen uns die Partner vom IMMS mit schneller Unterstützung bei Fragen und Problemen zur Seite.“
