1754 Ergebnisse
Referenz
  481. Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements  
St. Michael, ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig  
Referenz
  482. Parameter Identification of Membrane Structures - Chances and Limitations  
S. Michael, SSI 2010 - MEMUNITY Workshop, 24.03.2010, Grenoble, France  
Referenz
  483. PANDIA  
IMMS entwickelt neuartige CMOS- und SPAD-Sensor-ICs für Spektroradiometer zur schnelleren und empfindlicheren Analyse von Licht  
Referenz
  484. Ovutinin  
Für einen innovativen Schnelltest zur Fertilitätsdiagnostik entwickelt das IMMS einen Bildsensor zur zeitaufgelösten Fluoreszenzmessung.  
Über uns
  485. Organisation  
Organisationsplan des IMMS. Foto: Kvalifik, Unsplash. Organisation: Hier finden Sie unser Organigramm, Informationen zur Institutsleitung, zu unseren Themenbereichen, unserem Aufsichtstrat und unserem wissenschaftlichem Beirat sowie Kontatdaten.  
Referenz
  486. OPV und TIA-Optimierung mit WiCkeD  
V. Boos, St. Lange Workshop: 'Effizienzsteigerung und Ausbeuteverbesserung im analogen Schaltungsentwurf mit WiCkeD, 20.01.2004, Erfurt  
Referenz
  487. OptoMed-Vakuumluftlager  
Aufbau aus Metallrohren, Leitungen und Messgeräten auf einem Labortisch. Luftlager in Hochpräzisions-Vakuumanwendungen? Mit unseren Partnern loten wir das technisch Machbare dieses (scheinbaren) Widerspruchs aus.  
Referenz
  488. OPTOELECTRONICS BiCMOS OEIC for optical storage systems  
M. Heise, K. Kieschnick H. Pleß H. Zimmermann Electronics Letters, September 1998  
Referenz
  489. Optischer Sensor und Verstärker in BiCMOS  
M. Heise, H. Pleß Design & Elektronik, September 1998  
Referenz
  490. Optische Kommunikation nach IEEE 1394b über POF  
H.Töpfer, 09.03.2004, 18. Fachgruppentreffen ITG-FG 5.4.1. Optische Polymerfasern, Erfurt  
Suchergebnis 481 bis 490 von 1754