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Referenz
361.
Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
Referenz
362.
Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen
Pressemitteilungen
369.
CMOS-Bildsensor-Plattform für die zeitaufgelöste Fluoreszenzmessung mit Europium