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281. What The Fuzz (WTF): A Framework for Fuzz Testing ASIC Designs

Henning Siemen, Georg Gläser, München, Germany 2024 Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024

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282. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug

Adrian Pitterling, Florian Kögler, Georg Gläser, München, Germany 2024 Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024

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283. VE-ARiS: Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme. Abwehr von Reserve-Engineering auf IC-Ebene

Projektkonsortium VE-ARiS (iC-Haus GmbH, Wachendorff Automation GmbH & Co. KG, IMMS GmbH), München, Germany 2024 Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024

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284. Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024

Das IMMS hat Methoden entwickelt, um ML-Algorithmen und smarte Modelle für schnelle und sichere Chip-Entwicklungen zu nutzen. Foto: IMMS.

Ergebnispräsentationen der Forschungsprojekte der Förderrichtlinien für vertrauenswürdige Elektronik (ZEUS) und zukunftsfähige Spezialprozessoren und Entwicklungsplattformen (ZuSE) des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)

Veranstaltung

285. IEEE RFID 2024

Eine kleine Platine mit vergossenem Chip.

18th Annual International Conference on RFID

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286. A Charge Pump System with Controlled Input Impedance for Optimized RFID Energy Harvesting

Rohit Kesharwani, André Jäger, Martin Grabmann, David Schreiber, Georg Gläser, Hani Abdullah, Eric Schäfer, Cambridge, MA, USA 2024 2024 IEEE International Conference on RFID (RFID)

Veranstaltung

287. ISSW 2024

Leiterplatte mit Mikroelektronik-Chip in einem Gehäuse mit Mikrofluidik-Kanälen.

The International SPAD Sensor Workshop & SPAD Sensor School

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288. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation

Rick Pandey, Sebastian Uziel, Tino Hutschenreuther, Silvia Krug, Florence, Italy 2024 2024 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0 & IoT)

Veranstaltung

289. IEEE MetroInd4.0&IoT 2024

Nahaufnahme einer Fräsmaschine, an die eine etwa 2 x 2 cm kleine kabellose Platine mit Sensoren und einer leuchtenden LED gehalten wird.

2024 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT

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290. Effect of spent mushroom compost mulch and irrigation treatment on growth, yield and fruit quality of sweet cherry in a summer-dry climate

Martin Penzel, Claudia Kuhaupt, Maria Bamberg, Silvia Krug, Bucharest, Romania 2024 European Horticulture Congress EHC, Symposia „Fruit Production Systems for Sustainable and Resilient Development“