2115 Ergebnisse
Referenz
  221. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden  
M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
Referenz
  222. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden  
M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
Referenz
  223. Testerinstrumente auf FPGA-Basis  
M. Sprogies, G. Kropp I. Gryl Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)  
Referenz
  224. Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme  
Björn Bieske, Klaus Heinrich Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de  
Referenz
  225. Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz  
Björn Bieske, Michael Meister Dagmar Kirsten Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach  
Referenz
  226. Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen – Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen  
Bjoern Bieske, Kurt Blau 30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany  
Referenz
  227. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
Referenz
  228. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien  
Referenz
  229. Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren  
St. Michael, 4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden  
Dienstleistung
  230. Test und Charakterisierung  
Dienstleistung Test und Charakterisierung: Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.  
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