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Referenz
  2081. Out-of-Band Over-The-Air-Update for LoRaWAN-based Sensor Networks using BLE  
Florian Jung, Silvia Krug Tino Hutschenreuther 2025 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), October 28-30, 2025, Bologna, Italy  
Referenz
  2082. Suitability of Radio Communication Technologies for Smart Orchards Considering Seasonal Effects  
Silvia Krug, Falk Eisenreich Tino Hutschenreuther 2025 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), October 28-30, 2025, Bologna, Italy  
Referenz
  2083. NPS6D200: Long-Range-6D-Nanopositionierung mit interferometrischem Feedback für das Closed-Loop-Regelungssystem  
Steffen Hesse, Experten-Tag für Präzisionsmesstechnik, Oktober 28-29, 2025, bei SIOS Meßtechnik GmbH, Ilmenau, Germany  
Referenz
  2084. Quantization Compensator Network: Server-Side Feature Reconstruction in Partitioned IoT Systems  
Isaac Sánchez Leal, Oscar Artur Bernd Berg Silvia Krug Eiraj Saqib Irida Shallari Axel Jantsch Mattias O’Nils Tomas Nordström in IEEE Access, vol. 13, pp. 186488-186508, 2025, DOI: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2025.3627072  
Pressemitteilungen
  2085. Nanometergenaue Positionierung für High-Tech-Anwendungen  
SIOS und IMMS verbinden Know-how aus Forschung und Industrie im neuen Projekt MC_NPS  
Referenz
  2086. MC_NPS  
Verbindung eines Hochpräzisionsantriebs aus der Forschung mit industrieller Steuerung zur nanometergenauen Positionierung für High-Tech-Anwendungen  
Pressemitteilungen
  2087. Ilmenau – Smart City aus eigener Kraft  
Mann auf einer Leiter schraubt einen Sensor an einen Lampenmast vor einem Haus. Digitale Daten für mehr Komfort im Alltag der Bürgerinnen und Bürger: www.ilmenau.de/smartcity  
Referenz
  2088. Smartes Maschinenmonitoring – Anomalien mit Edge-KI detektieren  
Sebastian Uziel, in elektroniknet.de, 11. November 2025, https://www.elektroniknet.de/automation/industrie-40-iot/anomalien-mit-edge-ki-detektieren.228572.html und in Markt&Technik, Trend Guide Industrie 4.0/IIoT/KI 2025, S. 37-40, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/MUT?catalogName=MUTSH2507D  
Referenz
  2089. Optical detected magnetic resonance (ODMR) of ASi-Sii defects: case of acceptor indium  
Kevin Lauer, Bernd Hähnlein Mario Bähr Kai Kühnlenz Philipp Kellner Dirk Schulze Stefan Krischok Alexander Rolapp Christian Möller Thomas Ortlepp 4th DRD3 week on Solid State Detectors R&D, November 10-14, 2025, CERN, Zürich, Schweiz  
Veranstaltung
  2090. TUCconnect 2025  
Zwei Personen neben einer Messewand und hinter einem Tisch mit Elektronik und Infomaterial. Die Karrieremesse der Technischen Universität Chemnitz  
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