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  1931. 2023 Jahresbericht | Fachartikel PTK 4.0 (en/de)  
Kompaktes Mixed-Signal-Testsystem zur Charakterisierung von Halbleiterspeichern  
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  1932. 2023 Jahresbericht | Fachartikel SenpH CMOS-ISFET (en/de)  
Miniaturisierter CMOS-ISFET-Sensor für die Analytik und Diagnostik  
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  1933. 2023 Jahresbericht | Fachartikel thurAI Feinstaubmonitoring (en/de)  
Ein preiswertes System zum echtzeitnahen Monitoring der Feinstaub­belastung  
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  1934. 2023 Jahresbericht | Fachartikel thurAI Lampen-Monitoring (en/de)  
Nachrüstbares Monitoring von Straßenlampen — smarte und kosten­günstige Defekterkennung  
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  1935. Projektabschluss SensInt 2023 (Kurztext Jahresbericht 2023)  
CMOS-Bildsensor zur zeitaufgelösten Fluoreszenzdetek­tion für die direkte Integration in mikrofluidische Kartuschen mittels 3D-Siebdruck  
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  1936. Projektabschluss ViroGraph 2023 (Kurztext Jahresbericht 2023)  
Multiplex-Detektionssystem zum Nachweis von Viren auf Basis von Graphen-Feldeffekttransistoren  
Referenz
  1937. NPS6D200 – A Long Range Nanopositioning Stage with 6D Closed Loop Control  
Steffen Hesse, Alex Huaman Michael Katzschmann Bianca Leistritz Ludwig Herzog Appl. Sci. 2024, 14, 6972. DOI: https://doi.org/10.3390/app14166972  
Referenz
  1938. Clock Gate Insertion with a Yosys-based Netlist Modification Tool  
Manuel Jirsak, Adrian Pitterling Jonas Lienke Georg Gläser FPGA Ignite Summer School, 5. - 9. August 2024, Heidelberg, Germany  
Forschungsfeld
  1939. Magnetische 6D-Direktantriebe mit nm-Präzision  
Forschungsfeld Magnetische 6D-Direktantriebe mit nm-Präzision: Um die Fertigung makroskopischer High-Tech-Produkte mit mikroskopischer Präzision zu ermöglichen, forschen wir an wissenschaftlichen Grundlagen und technischen Lösungen für Nanopositioniersysteme für große Bewegungsbereiche.  
Leitanwendung
  1940. nm-Vermessung und -Strukturierung von Objekten  
Hochgenaues Präzisionsantriebssystem mit räumlichen (6D) Positioniergenauigkeiten im einstelligen nm-Bereich. Leitanwendung nm-Vermessung und -Strukturierung von Objekten: Um beispielsweise die immer höhere Komplexität integrierter Systeme auf immer kleineren Halbleiterflächen fertigen zu können, forschen wir an immer präziseren Antrieben zur Nanometer-Vermessung und -Strukturierung von Objekten.  
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