1921. Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)   R. Grieseler, K. Tonisch J. Klaus M. Stubenrauch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.2012  

  1922. Testing of Ultra-sensitive materials for nanoelectromechanical systems - USENEMS   R. Grieseler, J. Klaus M. Stubenrauch K. Tonisch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Lanzarote, Canary Islands, Spain: ECI Conference on Nanomechanical Testing in Materials Research and Development. (invited). 9.10.2011  

  1923. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.2012  

  1924. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, http://ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-0  

  1925. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen   K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau  

  1926. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  

  1927. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  

  1928. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS   M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  

  1929. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC   Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  

  1930. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006