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Veranstaltung
  1851. inova 2023  
Mitarbeiter des IMMS am Messestand der inova 2022 in der Campussporthalle in Ilmenau, Thüringen. Karriereforum an der TU Ilmenau  
Referenz
  1852. iENA-Silbermedaille für die Erfindung „Schaltungsanordnung zur Bereitstellung der Ladeenergie für einen Pegelwechsel auf einem Signalbus, Verfahren zur Kalibrierung und Signalübertragungssystem“  
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Veranstaltung
  1853. MetroAgriFor 2023  
Eine Mitarbeiterin des IMMS ist damit beschäftigt Bodenfeuchtesensoren im Boden einzubringen. Foto: IMMS GmbH. 2023 International IEEE Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry  
Referenz
  1854. A Modular Platform to Build Task Specific IoT Network Solutions for Agriculture and Forestry  
Silvia Krug, Marco Goetze Sören Schneider Tino Hutschenreuther 2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), Pisa, Italy, November 06-08, 2023, pp. 820-825, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroAgriFor58484.2023.10424104  
Referenz
  1855. Plot-specific drought stress simulation in vineyards using a microclimatic monitoring system in combination with a radiation and water balance model  
Rikard Graß, Hannah Boedeker Marco Hofmann Martin Schieck Silvia Krug Tino Hutschenreuther Hannes Mollenhauer 2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), Pisa, Italy, November 06-08, 2023, pp. 343-347, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroAgriFor58484.2023.10424113  
Referenz
  1856. Mit smarten Sensorsystemen und KI zu nachhaltigerer Produktion  
Wolfram Kattanek, Digital-Gipfel 2023, 20. November 2023, Jena  
Mediathek
  1857. 2022 Jahresbericht | Fachartikel SensoMem (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel SensoMem (en/de): Sensorik zur Online-Überwachung von Membranreaktoren für Dialyseprozesse und In-vitro-Proteinsynthese großer Probenvolumina  
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  1858. 2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA AMS ASIC Scope (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA AMS ASIC Scope (en/de): Testbench in Hardware: AMS ASIC Scope zur Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf  
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  1859. 2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA Modellfehlerschätzung (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA Modellfehlerschätzung (en/de): KI-basierte Modellfehlerschätzung macht Simulationen effizienter – KI unterstützt die Entwicklung von Mikrochips  
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  1860. 2022 Jahresbericht | Fachartikel Trib.US (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel Trib.US (en/de): Mobiles Multisensorik-Prüfgerät zur Instandhaltung von Wälzlagern  
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