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Referenz
  1761. Small-Signal Modeling of a Single-Switch AC/DC Power-Factor-Correction Circuit  
H. Wei, G. Zhu P. Kornetzky I. Bartaseh IEEE Trans. on Power Electronics, Vol. 14, No. 6, November 1999  
Referenz
  1762. Smart City - Leben & Arbeiten in vernetzten Welten  
Wolfgang Sinn, 8. Silicon Saxony Day, Fachforum 'Smart City', Dresden, 24.06.2013  
Referenz
  1763. Smart Home Platform for the Integration of Image Information in Daily Life Situations  
Tino Hutschenreuther, Marco Götze Wolfram Kattanek 13. SpectroNet Collaboration Forum, Konstanz, 17.04.2012  
Referenz
  1764. Smart Jacket  
Kleidung mit gestrickten Schaltern und energieeffizienter, waschbarer Elektronik soll den Alltag behinderter Menschen erleichtern.  
Pressemitteilungen
  1765. Smart Jacket vorgestellt – gestrickte Fernbedienung, waschbar bis 60°C  
Funktionskleidung für den Gesundheitssektor, die Industrie und schwierige Einsatzbedingungen.  
Veranstaltung
  1766. Smart Sensors 2018  
"Smart Sensors - mechanistic and data driven modelling"  
Referenz
  1767. Smartes Maschinenmonitoring – Anomalien mit Edge-KI detektieren  
Sebastian Uziel, in elektroniknet.de, 11. November 2025, https://www.elektroniknet.de/automation/industrie-40-iot/anomalien-mit-edge-ki-detektieren.228572.html und in Markt&Technik, Trend Guide Industrie 4.0/IIoT/KI 2025, S. 37-40, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/MUT?catalogName=MUTSH2507D  
Referenz
  1768. SMARTIEHS  
Mit dem entwickelten Mess-System können MEMS-Strukturen im Wafer-Verbund gleichzeitig geprüft und der Testaufwand deutlich reduziert werden.  
Referenz
  1769. SMARTIEHS - a European Project for Parallel Testing of M(O)EMS  
S. Michael, K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner J. Albero S. Beer R. Moosburger M. Pizzi Smart Systems Integration, 23.03.-24.03.2010, Como, Italy  
Referenz
  1770. SMARTIEHS - The interferometric test station for parallel inspection of MEMS and MOEMS  
K. Gastinger, M. Kujawinska U. Zeitner C. Gorecki Dr. Ch. Schäffel 11th Scientific Conference Optoelectronic and Electronic Sensors COE, 20.06-23.06.2010, Polen  
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