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Referenz
1641.
Verfahren zum Erweitern und Verwenden eines Modells zum Simulieren einer elektronischen Schaltung
Referenz
1642.
Verfahren zur automatischen Topologiemodifikation beim Entwurf von analogen integrierten Schaltungen
Referenz
1643.
Vergleich der Scan-Perfomance bei Nanopositioniersystemen mit großem Bewegungsbereich