1755 Ergebnisse
Referenz
  1621. Tri-Gate Al0.2Ga0.8N/AlN/GaN HEMTs on SiC/Si-substrates  
Wael Jatal, Uwe Baumann Heiko O. Jacobs Frank Schwierz Jörg Pezoldt Materials Science Forum, ISSN: 1662-9752, Vol. 858, pp 1174-1177, DOI: http://www.scientific.net/MSF.858.1174, ©2016 Trans Tech Publications, Switzerland  
Referenz
  1622. Trib.US  
Echtzeitfähige Plattform und Algorithmen für mobiles Multisensorik-Prüfgerät zur Instandhaltung von Wälzlagern  
Referenz
  1623. Trust is good, monitoring is better: An FPGA/TEE-Based Monitoring-Approach to Malware Detection and Prevention  
Friederike Bruns, Georg Gläser Florian Kögler Jonas Lienke Nithin Ravani Nanjundaswamy Gregor Nitsche Behnam Razi Perjikolaei Jörg Walter edaWorkshop 2024 and the European Nanoelectronics Applications, Design & Technology Conference (ADTC), 9. - 10. April 2024, Dresden, Germany  
Referenz
  1624. Trust is Good, Monitoring is Better: FPGA- & TEE-Based Monitoring for Malware-Detection  
Friederike Bruns, Georg Gläser Florian Kögler Jonas Lienke Nithin R. Nanjundaswamy Gregor Nitsche Behnam R. Perjikolaei Jörg Walter 13th IMA International Conference on Modelling in Industrial Maintenance and Reliability MIMAR2025, July 8-10, 2025, Université de Lorraine, France, DOI: https://doi.org/10.19124/ima.2025.01.25  
Referenz
  1625. TSN – ein neuer Vernetzungsstandard für Industrie 4.0  
Thomas Elste, Ralf Sommer edaWorkshop 2018, 16.-17. Mai 2018, Hannover  
Referenz
  1626. TSN-Testlabor  
Im Labor für Time-sensitive Networking (TSN) untersucht das IMMS technologische Grenzen beim Aufbau datenintensiver industrieller Echtzeitanwendungen.  
Veranstaltung
  1627. TUCconnect 2025  
Zwei Personen neben einer Messewand und hinter einem Tisch mit Elektronik und Infomaterial. Die Karrieremesse der Technischen Universität Chemnitz  
Referenz
  1628. TÜV SÜD Innovationspreis 2019: Platz 3 für das digitale mobile Ultraschallprüfgerät SONAPHONE zur Instandhaltung 4.0.  
 
Referenz
  1629. Two-dimensional electron gas based actuation of piezoelectric AlGaN/GaN microelectromechanical resonators  
K. Brueckner, F. Niebelschuetz K. Tonisch St. Michael A. Dadgar A. Krost V. Cimalla O. Ambacher R. Stephan M.A. Hein APPLIED PHYSICS - LETTERS 93, 173504 _2008  
Über uns
  1630. Über uns  
Über uns: Unser Ziel ist der Markterfolg unserer Partner. Wir unterstützen Unternehmen, international erfolgreiche Innovationen für Gesundheit, Umwelt und Industrie auf den Weg zu bringen und begleiten sie von der Machbarkeitsstudie bis zur Serienreife. Wir bringen Unternehmen mit anwendungsorientierter Forschung und Entwicklung in der Mikroelektronik, Systemtechnik und Mechatronik voran und transferieren Ergebnisse der Grundlagenforschung in Anwendungen.  
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